返回當(dāng)前位置:主頁>新聞資訊>高光譜相機(jī)技術(shù)
來源:賽斯拜克 發(fā)表時間:2023-06-20 瀏覽量:668 作者:張兵
光譜分析單元為色散元件,一般采用光柵或棱鏡作為色散單元,入射的輻射光經(jīng)過準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)準(zhǔn)直后,經(jīng)棱鏡和光柵狹縫色散后將復(fù)色光色散成按波長大小依次排列的單色光譜線。通過平場光學(xué)設(shè)計使光譜平直地分布在平面圖像傳感器上,在獲得光譜分辨的同時獲得空間分辨力
光譜分析單元為色散元件,一般采用光柵或棱鏡作為色散單元,入射的輻射光經(jīng)過準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)準(zhǔn)直后,經(jīng)棱鏡和光柵狹縫色散后將復(fù)色光色散成按波長大小依次排列的單色光譜線。通過平場光學(xué)設(shè)計使光譜平直地分布在平面圖像傳感器上,在獲得光譜分辨的同時獲得空間分辨力。色散型成像光譜儀器基本結(jié)構(gòu)示意圖見圖2.1。
光柵根據(jù)其分光方式的不同分為透射式和反射式,如圖2.2所示。
圖2.3是透射式光柵線掃描成像光譜儀的結(jié)構(gòu)圖,光經(jīng)過目標(biāo)物體后進(jìn)入物鏡,經(jīng)過透射式光柵和一系列棱鏡到達(dá)探測器。
圖2.4是反射式光柵的示意圖,反射式光柵線掃描成像光譜儀的結(jié)構(gòu)和透射式不同地方就是在入射狹縫之前的這一部分,入射狹縫和光柵在同一側(cè)。美國Headwall公司制造的Hyperspec VNIR高光譜成像光譜儀就是基于同軸全反射,f/2光學(xué)設(shè)計的,成像波段范圍為600~1600nm。
色散型系統(tǒng)一般采用掃描方式工作,又分為擺掃描(Whiskbroom)方式和推掃描(Pushbroom)方式,通過掃描得到高光譜成像立方體。
擺掃描方式即采用線陣列探測器使用空間擺掃方式成像,這種方式是最早投入實(shí)用的成像光譜技術(shù)。目前波段最全,實(shí)用性較強(qiáng)的成像光譜儀仍使用這種方式。美國JPL實(shí)驗(yàn)室的AVIRIS系統(tǒng)和美國GER公司的GERIS系統(tǒng)等都屬于此類成像光譜儀(Horler et al.1983)。擺掃型成像光譜儀通過光機(jī)左右擺掃和飛行平臺向前運(yùn)動方式完成二維空間成像,其線列探測器獲取每個瞬時視場像元的光譜維。擺掃型成像光譜儀的內(nèi)部電機(jī)驅(qū)動與被測物體平面成45°角的掃描鏡(Rotating Scan Mirror)進(jìn)行360°旋轉(zhuǎn),其旋轉(zhuǎn)水平軸與被測物平面前進(jìn)方向平行(Cross-track Scanning)。掃描鏡的掃描運(yùn)動方向與遙感平臺運(yùn)動方向垂直,對物體左右平行掃描成像。如圖2.5,這樣成像光譜儀所獲取的圖像就同時具有光譜分辨率與空間分辨率。擺掃型成像光譜儀有視場(FOV)大、像元配準(zhǔn)好、光譜波段范圍寬、探測元件定標(biāo)方便、數(shù)據(jù)穩(wěn)定性好等優(yōu)點(diǎn)。但擺掃型成像的缺點(diǎn)是像元凝視時間短,提高光譜和空間分辨率以及信噪比相對困難(張兵,2002)。
推掃描方式成像光譜儀采用面陣探測器成像,探測器垂直于運(yùn)動方向掃描,它的空間掃描方向就是平臺運(yùn)動方向(Along-track Scanning)。同時光譜儀通過光柵和棱鏡分光,完成光譜維掃描,見圖2.6,線掃描型成像光譜儀的優(yōu)點(diǎn)首先是像元的凝視時間大大增長,有利于提高系統(tǒng)的空間分辨率和光譜分辨率;其次沒有光機(jī)掃描機(jī)構(gòu),儀器機(jī)械構(gòu)造簡單。推掃描型成像光譜儀的缺點(diǎn)主要是:增大FOV比較困難,一般在30°左右;面陣CCD的器件標(biāo)定困難,面陣相機(jī)拍攝速率較慢實(shí)時性較低。